Mozaik Araştırmalarında Kullanılan Arkeometrik Yöntemler ve Örnekleri

Authors : Mahmut Aydin

Pages : 421-429

Doi:10.26658/jmr.1377311

View : 103 | Download : 341

Publication Date : 2023-11-03

Article Type : Research

Abstract :Günümüzde mozaiklerden elde edilecek bilgi sadece motiflerin görsel olarak incelemelerinden ibaret değildir. Tahribatsız ve tahribatlı arkeometrik yöntemler kullanılarak mozaiklerden elde edilecek bilimsel bilgi en üst seviyeye çıkarılabilmektedir. Mozaiklerde kullanılabilecek en yaygın arkeometrik yöntemler tahribatsız olanlardır; mozaiklerde kullanılan renk sayısı ve tonları taşınabilir (Munsell katalog kodunu veren) dijital renk ölçer ile tespit edilebilmektedir. Bunun yanı sıra taşınabilir X Işını Floresans Spektrometresi (P-EDXRF) ile tahribatsız bir şekilde taşları oluşturan elementler tespit edilerek tesseraların türleri belirlenebilmektedir. Cam tesseraların da kimyasal kompozisyonu ve renk vericiler belirlenebilmektedir. Tahribatlı arkeometrik yöntemlerin kullanılması izinler ve etik açısından her zaman mümkün olmasa da bu yöntemlerden elde edilecek bilimsel bilgiler tahribatsız yöntemlere göre daha fazladır ve güvenilirdir. Mozaiklerde kullanılan harç, taş, cam ve pişmiş toprak tesseraların türlerinin ve içeriklerinin belirlenmesinde yaygın kullanılabilecek arkeometrik yöntemler de şunlardır; petrografik analizler, dalga dağılımlı X Işını Floresans Spektrometresi (WDXRF), Kütle Spektrometresi ve X Ray Detektörlü Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM-EDX)’dur. Bu yöntemler kullanılarak cam tesseraların kimyasal kompozisyonu, renk verici kimyasallar, üretim hataları, bozulma nedenleri ve ikincil kullanım ürünü olup olmadığı (geri dönüşüm) gibi bilgiler elde edilebilmektedir. Taş tesseralarda ise tahribatlı arkeometrik yöntemler kullanılarak taş türü ve kökeninin belirlenmesi yapılabilmektedir. Bu çalışmada yazarın mozaikler üzerinde bizzat yürüttüğü arkeometrik yöntemler ve elde ettiği sonuçlar paylaşılacaktır.
Keywords : Mozaik, tessera, arkeometrik yöntemler, petrografik analizler P-XRF, SEM-EDX