- Adıyaman Üniversitesi Fen Bilimleri Dergisi
- Vol: 8 Issue: 2
- Determination of The Thickness and Optical Constants of Polycrystalline SnO_2 Thin Film by Envelope ...
Determination of The Thickness and Optical Constants of Polycrystalline SnO_2 Thin Film by Envelope Method
Authors : Özge Erken, Cebrail Gümüş
Pages : 141-151
View : 19 | Download : 9
Publication Date : 2018-12-28
Article Type : Research
Abstract :SnO 2 (kalay dioksit) ince film ticari cam alttaban üzerinde 420 o C’de püskürtme tekniği ile depolanmıştır. XRD analizleri SnO 2 ince filmin tetragonal rutil yapıya sahip olduğunu göstermiştir. Filmin optik geçirgenlik değerleri (% T ) görünür bölgede % 80-96 aralığındadır ve son derece şeffaftır. S oğurma katsayıları ( α ) geçirgenlik spektrumundan hesaplanmıştır. Kırılma indisleri ( n ) ve film kalınlığı ( t ) zarf yöntemi kullanılarak optik geçirgenlik eğrisinin girişimlerinden belirlenmiştir. Ultraviyole-görünür-yakın kızılötesi (UV-VIS-NIR) bölgelerinde kırılma indisleri ( n ) 1.83-1.97 aralığında değişmiştir. SnO 2 ince filmin kalınlığı ( t ) ve optik enerji aralığı, sırasıyla 1.22 μ m ve 3.98 eV olarak bulunmuştur.Keywords : Püskürtme tekniği, Zarf yöntemi, Optik sabitler, Optik sabitler, SnO_2 ince film