- Bartın Orman Fakültesi Dergisi
- Vol: 23 Issue: 3
- X-ışını Kırınımı (XRD) ve Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) Kullanılarak Kaynaklanan Göknar, Meşe v...
X-ışını Kırınımı (XRD) ve Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) Kullanılarak Kaynaklanan Göknar, Meşe ve Kestane Odununun Yapısal Karakterizasyonu
Authors : Mustafa Zor, Hızır Volkan Görgün, Mojgan Vaziri
Pages : 871-877
Doi:10.24011/barofd.989542
View : 21 | Download : 4
Publication Date : 2021-12-15
Article Type : Research
Abstract :Bu çalışma, kaynaklanmış Göknar, Meşe ve Kestane odunlarının morfolojik analizlerini tanımlamak için taramalı elektron mikroskopu ve selüloz kristanilitesini tahmin etmek için X-ışını kırınım analizi kullanılarak örnekler karakterize edilmiştir. Sonuçlar, XRD analizinde selüloz kristalinite indeksinin (CRI) göknar, meşe ve kestane ağacı örneklerinde sırasıyla% 57.55 ve % 47.73 ve% 56.66 olarak belirlendiğini göstermiştir. Tüm ahşap örneklerinin CRI değeri, kaynağa tabi tutulduktan sonra artmıştır. SEM analizine göre ahşabın genel hücre yapısı, kendini korurken kaynaklı ara fazı oluşturmak için kullanılan yüksek sıcaklık ve basınçla kırılma meydana gelmiştir. Sonuç olarak, yumuşak ağacın kristal değerinin, sert ağaçlardaki yüksek polisakkarit yüzdesine kıyasla daha yüksek olduğu bulunmuştur.Keywords : Yüzey karakterizasyonu, sürtünme ahşap kaynak, taramalı elektron mikroskop, X-ışını kırınımı