- Avrupa Bilim ve Teknoloji Dergisi
- Issue: 14
- Deposition and Structural Characterization of Sn-Se-Te Thin Films
Deposition and Structural Characterization of Sn-Se-Te Thin Films
Authors : Özge Sürücü
Pages : 343-347
Doi:10.31590/ejosat.489491
View : 9 | Download : 3
Publication Date : 2018-12-31
Article Type : Research
Abstract :Bu çalışmada Se ve Te değişiminin fiziksel buharlaştırma tekniği (FBT) ile üretilmiş SnSeTe (TSeTe) ince filmlerinin yapısal ve morfolojik özelliklerine etkisi incelenmiştir. Bu filmlerin yapısal ve morfolojik özelliklerini belirlemek için XRD ( X-ışını Kırınım Deseni), SEM( Taramalı Elektron Mikroskobu), EDXA (Enerji Dağılımlı X-ışını Analizi), Raman Analizi ve AFM (Atomik Kuvvet Mikroskobu) ölçümleri yapılmıştır. Ardından ısının film özelliklerine etkisini gözlemlemek için üretim sonrası farklı sıcaklıklarda tavlama işlemleri uygulanmıştır.Keywords : İnce Film, Yapısal Karaterizasyon, Taramalı Elektron Mikroskopu, XRD, Raman Analizi