- Sakarya Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi
- Vol: 21 Issue: 6
- The comparison of the methods used for determining of Schottky diode parameters in a wide temperatur...
The comparison of the methods used for determining of Schottky diode parameters in a wide temperature range
Authors : Durmuş Ali ALDEMİR, Ali KÖKCE, Ahmet Faruk ÖZDEMİR
Pages : 1286-1292
Doi:10.16984/saufenbilder.279996
View : 16 | Download : 4
Publication Date : 2017-12-01
Article Type : Other
Abstract :50 nm Schottky kontak kalınlığına sahip Ni/ n -GaAs Schottky diyotlarının akım-gerilim (I-V) verileri 60 K’den 320 K’e kadar olan geniş bir sıcaklık aralığında ölçüldü. Ni/ n -GaAs Schottky diyotlarının önemli kontak parametreleri geleneksel I - V metodu, Norde metodu, genelleştirilmiş Norde metodu ve Cheung fonksiyonları kullanılarak her bir sıcaklık değeri için ayrı ayrı elde edildi. Daha sonra sonuçlar birbirleriyle kıyaslandı.Keywords : Schottky Diyot, Geleneksel I-V metot, Cheung metot, Norde Metot, Genelleştirilmiş Norde Metot, Sıcaklık Bağlılığı